MDPlinescan在線少子壽命測試儀在眾多的少子壽命測量方法中，MDP（微波檢測光電導(dǎo)率）采用改進的少子壽命檢測技術(shù)，是微波檢測光電導(dǎo)衰減法檢測儀中常用的儀器之一，少子壽命測試儀原理從載流子輸運原理出發(fā)，建立廣義速率方程和偏微分方程系統(tǒng)。擁有*的靈敏度和分辨率，很大程度提升在線檢測的速度和質(zhì)量，快速出具少子壽命測試的實驗報告。
       

MDPlinescan被設(shè)計成一個易于集成的OEM設(shè)備，可以集成到各種自動化檢測線。關(guān)鍵的是在傳送過程中進行少子壽命掃描。樣品通常由測量頭下面的傳送帶或機器人系統(tǒng)攜帶。應(yīng)用實例包括從晶磚到晶圓檢測，單晶少子壽命測試、多晶少子壽命測試，每塊晶圓的測量速度小于一秒。電池生產(chǎn)線上的來料質(zhì)量檢查是經(jīng)典的通用案例，也用于鈍化和擴散后的工藝質(zhì)量檢查，還有許多其他特殊的應(yīng)用的可能性。易于集成，只需要以太網(wǎng)連接和電源。
 

MDPlinescan W       

包括一個額外的電阻率測量選項。        

MDPlinescan在線少子壽命測試儀優(yōu)點：         

◇  在µ-PCD或穩(wěn)態(tài)激勵條件下線掃描少數(shù)載流子壽命和電阻率是這個小型設(shè)備的重要功能；        

◇  OEM設(shè)備可以集成到多晶或單晶硅片的生產(chǎn)線上，在不同的制備階段，直至器件、磚塊或晶錠。        

◇  小巧的尺寸和標準的自動化接口使其易于集成。重點是測量結(jié)果的長期可靠性和精確性。        

        示范性線狀掃描圖        

細節(jié)：                  

◇  允許單晶圓片調(diào)查                 

◇  不同的晶圓級有不同的配方        

◇  監(jiān)控物料、工藝質(zhì)量和穩(wěn)定性     

技術(shù)規(guī)格: